DSF-L800
高い分解能で広いダイナミックレンジの測(cè)定を可能にした、デジタル表面形狀?粗さ測(cè)定機(jī)です。
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変位検出器にデジタルセンサを組み込み、“輪郭形狀”と“表面粗さ”をワンスキャンで同時(shí)測(cè)定が可能。
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より高度な解析機(jī)能、プラトー表面解析ソフトと接觸點(diǎn)フィルタを標(biāo)準(zhǔn)裝備。
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検出器過(guò)負(fù)荷停止機(jī)能標(biāo)準(zhǔn)裝備。
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Z分解能/測(cè)定範(fàn)囲
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0.75nm / ±6mm
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Z検出方式
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半導(dǎo)體レーザスケール
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觸針
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R2μm 0.7mN
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解析項(xiàng)目
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形狀解析（要素、スカラ量、統(tǒng)計(jì)量、マスタ比較、公差判定）
表面粗さ（JIS、ISO、DIN、ANSI、BS）
表面うねり（JIS）
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株式會(huì)社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì)，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測(cè)定/自動(dòng)/流體三大部門(mén)。其中測(cè)定部門(mén)為具代表性單位且在日本精密測(cè)定業(yè)占有一席無(wú)法被取代的地位。
設(shè)備特點(diǎn)：
KOSAKA ET200A 基于 Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，包括半導(dǎo)體硅片、太陽(yáng)能基板、薄膜磁頭及磁盤(pán)、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測(cè)量的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用。ET200A 能**可靠地測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。
KOSAKA小坂粗糙度儀，粗度計(jì)，粗度儀
KOSAKA小坂粗糙度輪廓一體機(jī)
KOSAKA小壇輪廓儀
KOSAKA小坂臺(tái)階儀，膜厚儀，薄膜測(cè)厚儀KOSAKA小坂圓度儀，真圓度儀，圓柱度儀
KOSAKA小坂測(cè)量?jī)x配件
KOSAKA小坂非接觸式表面形貌測(cè)量裝置
KOSAKA小坂微細(xì)深孔測(cè)量裝置
KOSAKA小坂晶圓檢測(cè)裝置
KOSAKA小坂關(guān)節(jié)管測(cè)量?jī)x
KOSAKA小坂探針卡檢測(cè)設(shè)備
KOSAKA小坂高精度貼片機(jī)
KOSAKA小坂傳感器
表面粗度測(cè)定機(jī):
SE300,SE500,SE600,SE610,SE600K,SE600K31
SE700.SE4000.
表面粗度,輪廓形狀測(cè)定機(jī):
SEF580-G18,SEF580--G18D,SEF580-M50,SEF580-M58,SEF580-M58D.SEF680.SEF680K
細(xì)微形狀測(cè)走機(jī):
ET200,ET4000,ET10000
表面形狀,粗度測(cè)定機(jī):
DSF600.DSF900.
輪廓形狀測(cè)定機(jī):
EF550-G18,EF550-G18D,EF550-M50,EF550-M58,EF550-M58D,EF650,EF650D,REF100
真圓度,圓頭形狀測(cè)定機(jī):
EC600,EC1550H,EC1650H,EC1850H,EC2150,EC2500H,EC2700H,EC2500HF,EC2700
EC3300PEC3600A,EC3600B,EC3600CEC4100H，EC5100H,EC6100